Для исследования поликристаллических CVD-пленок наиболее действенным оказался способ спектрофотометрии, позволивший найти маленькое количество азотных изъянов и создать выводы о качестве исследуемых пленок.
«К примеру, для определения в образчиках количества примесей способом ИК (то есть тепловое, инфракрасное, на основе инфракрасного излучения)-Фурье спектроскопии не нужна долгая подготовка образцов и оборудования, что дозволяет существенно уменьшить время на исследование, – отмечает один из создателей работы Татьяна Мартынова. – При исследовании примесного состава при помощи микрорентгеноспектрального анализа значимая часть всего времени исследования уходит на достижение требуемого уровня вакуума в системе электрического микроскопа. К тому же, определение примесного состава алмаза сиим способом затруднено из-за огромных погрешностей, а малые количества примесей им и совсем не идентифицируются. Исследование же на микроскопах, нацеленных на обнаружение бора и азота в алмазе, экономически нерентабельно и не дает такового четкого результата, как исследование на ИК (то есть тепловое, инфракрасное, на основе инфракрасного излучения)-Фурье спектрометре».
Приобретенные данные дозволили сотрудникам лаборатории оперативно отбирать высококачественные алмазные подложки для получения качественных монокристаллов алмаза, в том числе – больших размеров.
По разработанным технологиям уже выращены алмазы ювелирного свойства массой полтора карата, сделаны неповторимые по своим чертам сенсоры томных заряженных частиц и нейтронов и алмазные поликристаллические пленки для использования в рамановских лазерах.
Источник: